STMicroelectronics EEPROM, M24256-BFMC6TG, 256 kB, série I2C, 450 ns UFDFPN, 8 broches, 8

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1000 - 24750,325 €8,13 €
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Options de conditionnement :
Code commande RS:
190-7577
Référence fabricant:
M24256-BFMC6TG
Marque:
STMicroelectronics
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Marque

STMicroelectronics

Taille de la mémoire

256kB

Type de produit

EEPROM

Type d'interface

série I2C

Type de Boitier

UFDFPN

Type de montage

Surface

Nombre de broches

8

Fréquence d'horloge maximum

1MHz

Configuration

32K x 8 Bit

Tension d'alimentation minimum

1.7V

Tension d'alimentation maximum

5.5V

Nombre de bits par mot

8

Température minimum de fonctionnement

-40°C

Température d'utilisation maximum

85°C

Largeur

3 mm

Série

M24256

Hauteur

0.6mm

Normes/homologations

RoHS 2011/65/EU

Longueur

2.1mm

Standard automobile

AEC-Q100

Temps d'accès aléatoire maximum

450ns

Courant d'alimentation

2.5mA

Nombre de mots

32k

Rétention des données

200year

Le M24256-BW peut fonctionner avec une tension d'alimentation de 2,5 à 5,5 V, le M24256-BR et le M24256-DR peuvent fonctionner avec une tension d'alimentation de 1,8 à 5,5 V, et le M24256-BF et M24256-DF peuvent fonctionner avec une tension d'alimentation de 1,7 à 5,5 V. Tous ces dispositifs fonctionnent avec une fréquence d'horloge de 1 MHz (ou moins), sur une plage de température ambiante de -40 °C/+85 °C.

Compatible avec tous les modes de bus I2C :

1 MHz

400 KHz

100 kHz

Matrice de mémoire :

256 kbit (32 ko) d'EEPROM

Taille de page : 64 octets

Page verrouillable en écriture supplémentaire

Tension d'alimentation simple et haute vitesse :

Horloge de 1 MHz de 1,7 à 5,5 V.

Écriture :

Écriture d'octets en moins de 5 ms

Écriture de page en 5 ms

Indice de température de fonctionnement :

De -40 à +85 °C.

Modes de lecture aléatoire et séquentiel

Protection en écriture de l'ensemble de la matrice de mémoire

Protection ESD/de verrouillage améliorée

Plus de 4 millions de cycles d'écriture

Conservation des données de plus de 200 ans

Boîtiers

SO8

TSSOP8

UFDFPN8

WLCSP

Wafer Unscin (chaque matrice est testée)

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