Sourcemètre Keithley série 2600B, 4 voie(s), 100 → 240 V c.a.

L'unité de source et de mesure (SMU) 2606B System SourceMeter offre quatre canaux de SMU 20 W dans un châssis à format de hauteur 1U. Fabriqué avec la technologie de SMU de troisième génération de Keithley, le 2606B offre les capacités combinées d'une alimentation de précision, d'une vraie source de courant, d'un multimètre numérique 6 digits, d'un générateur de forme d'onde arbitraire et d'un générateur d'impulsions, le tout dans un seul instrument fortement intégré. Le résultat est une solution puissante qui augmente la productivité de manière significative pour les tests de qualification et de production automatisés exigeants pour les dispositifs optoélectroniques tels que les diodes laser/VCSEL utilisées dans la détection 3D, les télécommunications, et les LED utilisées dans les produits grand public et l'automobile, ainsi que des dispositifs intégrés tels que les dispositifs à CI analogiques, ASIC et SoC. Quand un nombre élevé de canaux SMU est nécessaire, plusieurs unités 2606B peuvent être empilées les unes sur les autres sans nécessiter d'espace thermique entre les unités. Le logiciel Web intégré permet de communiquer avec le 2606B à partir de n'importe quel ordinateur et de n'importe où dans le monde. Pour les applications de système automatisées, la technologie Test Script Processor (TSP®) du 2606B exécute des programmes de test complets de l'intérieur de l'instrument pour les meilleurs résultats du secteur. Dans les applications multi-canaux plus grandes, la technologie TSP-Link® de Keithley fonctionne avec la technologie TSP pour permettre des tests parallèles "SMU par broche" haute vitesse. Chaque SMU 2606B dispose d'un code compatible avec le SMU 2602B System SourceMeter de Keithley lorsque vous utilisez les nouvelles plages.

• SMU quatre canaux dans un unique châssis plein rack 1U
• Empilable : aucun espace 1U nécessaire entre les unités
• Les instruments de génération et de mesure de tension/courant fortement intégrés offrent les meilleures performances avec une résolution de 6 digits
• Enveloppes d'alimentation 20 V @ 1 A et 6 V @ 3 A, 20 W
• Précision de base de 0,015 % V c.c.
• Jusqu'à 28 bits d'E/S numériques à drain ouvert
• Résultats corrélés au SMU 2602B System SourceMeter
• La technologie TSP intègre des programmes de test complets à l'intérieur de l'instrument pour un rendement de niveau système haut de gamme
• Technologie d'extension de lien TSP pour test parallèle multi-canaux sans ordinateur central
• LAN sur panneau avant (LXI-C), protocole USB 2.0 TMC488 et interfaces d'E/S numériques
• Le logiciel Web intégré permet de commander depuis un navigateur, à partir de n'importe quel ordinateur et de n'importe où dans le monde

Test I-V fonctionnel et caractérisation d'une large gamme de dispositifs, y compris :
• Dispositifs optoélectroniques
- Laser à émission de surface de cavité verticale (VCSELs), diodes laser (utilisées sur les systèmes de détection 3D)
- Diode électroluminescentes (LED) à haute luminosité (HBLED)
- Ecrans
• Circuits intégrés à petite échelle (SSI) et à grande échelle (LSI)
- Circuits intégrés analogiques
- Circuits intégrés de fréquence radio (RFIC)
- Circuits intégrés pour application spécifique (ASIC)
- Système sur circuit (SoC)
• Composants discrets et passifs
- Capteurs deux fils, têtes d'entraînement de disque, varistances à oxyde métallique (MOV), diodes, diodes Zener, capteurs, condensateurs, thermistances
- Transistors à jonction bipolaire (BJTs) trois fils à petits signaux, transistors à effet de champ (FET), et bien plus
• Circuits intégrés simples : opto, drivers, commutateurs, capteurs, convertisseurs et régulateurs